DS半球發(fā)射率測(cè)量?jī)x
產(chǎn)品型號(hào): | |
更新日期: | 2016-04-06 |
訪問(wèn)次數(shù): | 4440 |
本發(fā)射率測(cè)量?jī)x是用于測(cè)量發(fā)射率的設(shè)備。
詳細(xì)資料:
【產(chǎn)品概述】
本發(fā)射率測(cè)量?jī)x是用于測(cè)量發(fā)射率的設(shè)備。主要特點(diǎn)為:
1. 重復(fù)性:±0.01 輻射單元
2. 操作簡(jiǎn)單:該設(shè)備的探測(cè)器部分可以電加熱,所以樣品無(wú)需加熱。無(wú)需進(jìn)行溫度測(cè)量。
3. 快速測(cè)量:設(shè)備本身預(yù)熱時(shí)間為30 分鐘,之后每1.5 分鐘可以進(jìn)行一次輻射測(cè)量。
在150F(65℃)時(shí),發(fā)射率測(cè)量?jī)x的發(fā)射率測(cè)量值接近全半球發(fā)射率。探測(cè)器只對(duì)輻射熱轉(zhuǎn)移有反應(yīng),該設(shè)計(jì)滿足電壓隨發(fā)射率成線性輸出。數(shù)字電壓表是發(fā)射率測(cè)量?jī)x的讀出設(shè)備,右下角處設(shè)有一個(gè)調(diào)節(jié)鈕,通過(guò)調(diào)節(jié)該鈕,可以使讀出的電壓數(shù)與校準(zhǔn)標(biāo)樣的發(fā)射率保持*。之后,當(dāng)發(fā)射率測(cè)量?jī)x的探測(cè)器被放置在待測(cè)材料表面上時(shí),數(shù)字式電壓表便會(huì)直接顯示發(fā)射率數(shù)值。
發(fā)射率測(cè)量?jī)x可以對(duì)橫截面直徑5.7 厘米的平面材料進(jìn)行測(cè)量。其適配器1 和適配器3 可以實(shí)現(xiàn)對(duì)橫截面直徑為2.54 厘米的平面材料進(jìn)行測(cè)量。我們也可以根據(jù)用戶的需求定制用于圓柱形表面及其他表面測(cè)試的適配器。測(cè)量發(fā)射率需要兩個(gè)步驟:
1. 將發(fā)射率探測(cè)器置于高發(fā)射率標(biāo)樣之上,調(diào)節(jié)數(shù)字電壓表的讀數(shù),以顯示其發(fā)射率;
2. 將發(fā)射率探測(cè)器置于被測(cè)樣品之上,從數(shù)字電壓表直接讀出其發(fā)射率。
【發(fā)射率測(cè)量?jī)x技術(shù)規(guī)范】
1. 讀數(shù):通過(guò)數(shù)字電壓表讀出數(shù)據(jù)
2. 輸出:2.4 毫伏額定電壓,樣品發(fā)射率0.9,樣品溫度78F(25℃)。額定輸出電阻150歐。
3. 線性:探測(cè)器線性輸出,發(fā)射率在+/-0.01 單位以內(nèi)。
4. 時(shí)間常數(shù):額定10 秒(時(shí)間達(dá)到zui終值的63%)
5. 熱槽:用于保持校準(zhǔn)標(biāo)樣和待測(cè)材料處于同一溫度下
6. 樣品溫度:zui高130F。樣品和校準(zhǔn)標(biāo)樣必須處于同一溫度下。
7. 偏差:由于室溫的變化,輸出將隨時(shí)間變化。該偏差可忽略。
8. 標(biāo)準(zhǔn)樣品:隨發(fā)射率測(cè)量?jī)x將交付4 個(gè)校準(zhǔn)標(biāo)樣,兩個(gè)高發(fā)射率校準(zhǔn)標(biāo)樣和兩個(gè)低發(fā)射率校準(zhǔn)標(biāo)樣。一套高低發(fā)射率校準(zhǔn)標(biāo)樣將在工作中使用,另一套將作為參照物被存儲(chǔ)。工作標(biāo)樣將定期根據(jù)存儲(chǔ)標(biāo)樣進(jìn)行降解測(cè)試。
9. 直流功率適配器:通用直流適配器,100-240V,50-60Hz,直流12W。使用美標(biāo)電源線。
發(fā)射率測(cè)量?jī)x系統(tǒng)包括發(fā)射率探測(cè)器、用于直接讀取發(fā)射率的數(shù)字式電壓表、功率/輸出線纜、熱槽、兩個(gè)高發(fā)射率校準(zhǔn)標(biāo)樣、兩個(gè)低發(fā)射率校準(zhǔn)標(biāo)樣、技術(shù)注解和操作手冊(cè)。