北京時(shí)代新天測(cè)控技術(shù)有限公司

一 SFS-EN ISO 2808 介紹

ISO 2808標(biāo)準(zhǔn)描述了一些測(cè)量基材上涂層厚度的方法。方法確定了對(duì)以下內(nèi)容的描述：濕膜厚度，干膜厚度，未固化噴塑涂層厚度。

二 相關(guān)術(shù)語(yǔ)說(shuō)明

相關(guān)術(shù)語(yǔ)的定義主要參照ISO 4618 ：2006，下面對(duì)測(cè)厚過(guò)程中常用的術(shù)語(yǔ)加以說(shuō)明。

1底材：將要噴涂涂層的表面。

2膜厚： 底材表面和涂層膜表面之間的距離。

3濕膜厚度：剛剛噴涂上的濕膜材料的厚度，在噴涂后立刻測(cè)量。

4干膜厚度：當(dāng)涂層硬化后，表面的涂層的厚度

5未固化噴塑涂層的厚度：剛噴涂的塑粉的厚度，噴塑后從噴塑烤房出來(lái)前測(cè)量的塑粉材料的厚度。

6相關(guān)表面區(qū)域：覆蓋的或即將被涂層覆蓋的部件的一部分，即涂層的適用性相對(duì)外觀很重要的那部分。

7試驗(yàn)區(qū)域：相關(guān)表面區(qū)域的代表部分，將在此部分進(jìn)行協(xié)議次數(shù)的單次測(cè)量。

8測(cè)量區(qū)域：進(jìn)行單次測(cè)量的區(qū)域

9zui小局部膜厚：在特定試驗(yàn)樣品的相關(guān)表面上的局部膜厚的zui低值

10zui大局部膜厚:在特定試驗(yàn)樣品的相關(guān)表面上的局部膜厚的zui高值

11平均膜厚:試驗(yàn)區(qū)域的所有單次干膜厚度的算數(shù)平均值，或膜厚重量分析的測(cè)定值。

12校準(zhǔn): 測(cè)量可追溯校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)的受控核文件程序，驗(yàn)證結(jié)果在測(cè)量?jī)x器的陳述的準(zhǔn)確性范圍內(nèi)。 初始校準(zhǔn)是通過(guò)儀器生產(chǎn)商或或通過(guò)有資質(zhì)的實(shí)驗(yàn)室控制環(huán)境下使用的文件程序按照文件程序進(jìn)行的。此初始校準(zhǔn)將常常通過(guò)用戶在常規(guī)間隔期內(nèi)進(jìn)行驗(yàn)證。在校準(zhǔn)過(guò)程中使用的標(biāo)準(zhǔn)為綜合測(cè)量的組合不確定性少于儀器的不準(zhǔn)確性。

13驗(yàn)證:用戶使用的相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行的準(zhǔn)確性檢查。

14參考標(biāo)準(zhǔn): 已知厚度的樣品對(duì)比用戶的測(cè)量值，可驗(yàn)證測(cè)量?jī)x器的準(zhǔn)確性。 參考標(biāo)準(zhǔn)可能為涂層厚度標(biāo)準(zhǔn)。如果通過(guò)簽訂合同方的協(xié)議，那么試驗(yàn)樣品的部分可以用來(lái)作為特殊工作的膜厚標(biāo)準(zhǔn)。

15測(cè)量?jī)x器的厚度讀數(shù)的矯正操作要符合相關(guān)的參考標(biāo)準(zhǔn):  按照厚度標(biāo)準(zhǔn)和在墊片上調(diào)整絕大多數(shù)的測(cè)量?jī)x器，鍍層厚度和墊片已知。

16準(zhǔn)確性:厚度標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量數(shù)值和準(zhǔn)確數(shù)值之間的一致性。

三 常見(jiàn)測(cè)光厚儀器及測(cè)厚原理

1千分尺

千分尺應(yīng)該能夠zui近測(cè)量5um。應(yīng)該安裝一個(gè)棘齒，以便限制主軸上的力施加在試驗(yàn)表面上。帶有平面測(cè)量面的千分尺頭被夾在帶有平坦的基板的堅(jiān)固架子上，架子的高度應(yīng)可以調(diào)整。測(cè)量面應(yīng)和基板的頂部平行對(duì)齊。手持式（參見(jiàn)圖3.1），這種儀器的一般術(shù)語(yǔ)名稱為外徑千分尺，盡管它還被稱為千分卡尺（參見(jiàn)ISO3611）。千分尺應(yīng)符合ISO3611的要求。軸和鐵砧的測(cè)量面應(yīng)為平面，并且互相平行。

2度盤(pán)指示器

   機(jī)械度盤(pán)式指示器的可用于傳統(tǒng)測(cè)厚，目前也有電子度盤(pán)式量規(guī)，可有模擬信號(hào)或數(shù)字信號(hào)顯示。度盤(pán)復(fù)合ISO 3611標(biāo)準(zhǔn),  度盤(pán)式量規(guī)的下面有兩個(gè)等長(zhǎng)的與可動(dòng)活塞等距放置的接觸針，三者成一條直線。調(diào)整螺釘用于精密調(diào)整活塞在導(dǎo)向道上的位置。

3激光光熱法

膜厚通過(guò)向涂層輻射熱波的時(shí)間和探測(cè)到重新發(fā)射波（熱波或超聲波）的時(shí)間差來(lái)確定。

光熱原則基本適用于所有膜基材組合。也可以用于確定多層涂層中的其中一層的厚度，條件是多層涂層中的每一層應(yīng)可通過(guò)它們的熱傳到新和反射性能充分區(qū)分。

4重量分析方法

使用重量分析的原則確定整個(gè)覆蓋土城區(qū)域的濕膜厚度的平均值。在噴涂圖層時(shí)，樣品的反面應(yīng)覆蓋保護(hù)，以免由于在樣塊背面噴上涂層導(dǎo)致測(cè)量誤差。在稱重噴涂后樣塊前，應(yīng)將其備件的保護(hù)層去掉。

噴涂涂層的厚度的計(jì)算方式為：用涂層的質(zhì)量除以涂層密度，再除以涂層表面面積。噴涂液態(tài)涂層材料的密度可以按照ISO2811-1，ISO2811-2，ISO2811-3，ISO2811-4來(lái)確定。

5 磁力法

通過(guò)磁場(chǎng)和金屬底材之間的相互作用來(lái)確定膜厚。通過(guò)磁場(chǎng)變化得出膜厚。磁力法適合于涂層后的金屬底材。對(duì)于磁感應(yīng)計(jì)方法，底材必須是鐵磁體，當(dāng)電磁鐵接近含磁性底材時(shí)，它能從磁場(chǎng)產(chǎn)生的變化來(lái)確定膜厚。渦流表方法，底材必須是非鐵磁性材料，此電磁鐵通過(guò)由導(dǎo)電底材上的渦流造成的磁場(chǎng)變化確定膜厚。

6 光熱法

光熱原理基本適用于所有膜與底材的結(jié)合。通過(guò)熱波射向涂層的時(shí)間和發(fā)現(xiàn)被重新發(fā)射的波（熱波或超聲波）的時(shí)間不同來(lái)確定膜厚。假如涂層之間的導(dǎo)熱系數(shù)和反射特性能夠明顯區(qū)分，也可以用此原理來(lái)確定多層涂層中的單層膜厚。不管涉及何種激發(fā)方式或檢測(cè)方法，所有的光熱法都用相同的原理：把以熱為形式的能量周期性的或脈沖導(dǎo)入樣品，隨后發(fā)現(xiàn)局部溫度升高。把所測(cè)量的時(shí)間差同在固定條件下（激發(fā)能，脈波長(zhǎng)，激發(fā)頻率，等）通過(guò)儀器得出的膜厚值進(jìn)行比較。

四 我司銷(xiāo)售測(cè)厚儀說(shuō)明

北京時(shí)代新天測(cè)控技術(shù)有限公司主要生產(chǎn)各類(lèi)檢定儀表。 我司生產(chǎn)的測(cè)厚儀采用磁感應(yīng)和電渦流原理。測(cè)量方法符合標(biāo)準(zhǔn)ISO2361，ISO 2178和國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB4956、GB4957。它采用計(jì)算機(jī)技術(shù)，無(wú)損檢測(cè)技術(shù)等多項(xiàng)先進(jìn)技術(shù)，無(wú)需損傷被測(cè)體就能準(zhǔn)確地測(cè)量出它的厚度。我司所生產(chǎn)的測(cè)厚儀TT220之F型探頭可測(cè)量導(dǎo)磁材料（如鐵/鎳）表面上的非導(dǎo)磁覆蓋層厚度（如：油漆、塑料、搪瓷、銅、鋁、鋅、鉻等）?？蓱?yīng)用于電鍍層、油漆層、搪瓷層、鋁瓦、銅瓦、巴氏合金瓦、磷化層、紙張的厚度測(cè)量，也可用于船體油漆及水下結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測(cè)量。 TT230之N型探頭可測(cè)量非導(dǎo)磁金屬基體上的絕緣覆蓋層厚度，如鋁、銅、鋅、無(wú)磁不銹鋼等材料表面上的油漆、塑料、橡膠涂層，也可測(cè)量鋁或鋁合金材料的陽(yáng)極氧化層厚度。具有耐磨硬質(zhì)金屬探針的彈簧導(dǎo)套式探頭，能夠保證測(cè)頭具有不變的壓緊力和穩(wěn)定的取樣值，在堅(jiān)硬或粗糙的表面上能夠準(zhǔn)確測(cè)量測(cè)量。我司產(chǎn)測(cè)厚儀可實(shí)現(xiàn)與PC機(jī)通訊，從而兒實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的采集，處理，分析和報(bào)表打印，大大滿足使用單位管理需求。我司產(chǎn)測(cè)厚儀還設(shè)有自動(dòng)關(guān)機(jī)、自動(dòng)識(shí)別被測(cè)基體、自動(dòng)記憶校準(zhǔn)值等功能，方便用戶使用。